Mitutoyo Máy đo tổng hợp

Máy Đo Tọa Độ 3 Chiều Kết Hợp Giao Thoa Ánh Sáng Trắng Mitutoyo QVW-H404P1L-E (363-716-10)

Mã sản phẩm 363-716-10
SKU 36371610
Đơn giá Liên hệ báo giá
Máy đo tọa độ 3 chiều Mitutoyo QVW-H404P1L-E 363-716-10 kết hợp hệ thống vision và WLI, phạm vi đo 400×400×240 mm, độ phân giải 0,01 µm, phân tích độ nhám bề mặt độ phân giải cao.

Mô tả sản phẩm

Mitutoyo QVW-H404P1L-E (mã 363-716-10) là máy đo tọa độ 3 chiều không tiếp xúc thế hệ cao cấp, tích hợp đồng thời hệ thống camera vision và công nghệ Giao Thoa Ánh Sáng Trắng (White Light Interferometer – WLI), đáp ứng yêu cầu đo lường hình học chính xác cao và phân tích địa hình bề mặt 3D trong môi trường sản xuất công nghiệp.

Tích hợp Vision + WLI

Kết hợp đo không tiếp xúc bằng hệ thống camera vision với công nghệ Giao Thoa Ánh Sáng Trắng (WLI) trên cùng một nền tảng, giúp đo hình học và phân tích địa hình bề mặt trong một lần thiết lập.

Độ phân giải thước đo 0,01 µm

Thước đo tuyến tính với độ phân giải 0,01 µm đảm bảo khả năng ghi nhận dịch chuyển cực nhỏ, nền tảng cho độ chính xác đo lường vượt trội trên cả ba trục X, Y, Z.

Phần mềm QVPAK toàn năng

Khai thác đầy đủ chức năng của phần mềm QVPAK cho hệ thống vision, hỗ trợ lập trình đo tự động, phân tích dữ liệu và xuất báo cáo kiểm tra chất lượng theo tiêu chuẩn công nghiệp.

Đánh giá độ nhám bề mặt độ phân giải cao

Mô-đun WLI mở rộng chức năng phân tích địa hình 3D và đo độ nhám bề mặt với độ phân giải cao, phù hợp cho kiểm tra bề mặt gia công chính xác, khuôn mẫu và linh kiện quang học.

Hệ thống chiếu sáng và quan sát linh hoạt

QVW-H404P1L-E được trang bị đơn vị chiếu sáng đa chế độ: chiếu sáng viền biên dạng bằng ánh sáng trắng, chiếu sáng bề mặt thẳng đứng bằng ánh sáng trắng, chiếu sáng PRL và đầu quang WLI sử dụng đèn halogen. Đơn vị quan sát là turret tháp xoay lập trình được với hệ số phóng đại 1X-2X-6X, đảm bảo linh hoạt trong lựa chọn trường quan sát phù hợp với từng chi tiết đo.

Ứng dụng trong môi trường B2B công nghiệp

Thiết bị phù hợp cho phòng đo lường trung tâm tại các nhà máy cơ khí chính xác, điện tử, khuôn mẫu và y tế. Khả năng tải bàn máy tối đa 25 kg cho phép đo các chi tiết lớn và nặng, trong khi phạm vi đo WLI 315×400×240 mm đáp ứng linh hoạt đa dạng kích cỡ mẫu.

Độ chính xác đo vision được kiểm định bởi Mitutoyo

Độ chính xác E1X, E1Y được xác định theo phương pháp kiểm tra của Mitutoyo với công thức (0,8 + 2L/1000) µm. Giá trị này được đảm bảo khi sử dụng vật kính 2,5X (QV-HR2,5X hoặc QV-SL2,5X) kết hợp ống kính phóng đại trung gian theo cấu hình chuẩn.

  • Đo không tiếp xúc kết hợp vision và WLI trên một hệ thống duy nhất
  • Phạm vi đo X×Y×Z: 400×400×240 mm; WLI: 315×400×240 mm
  • Độ phân giải thước đo: 0,01 µm
  • Tải trọng bàn máy tối đa: 25 kg
  • Phần mềm QVPAK với đầy đủ tính năng đo tự động và báo cáo
  • Turret tháp xoay lập trình được: 1X-2X-6X
  • Chiếu sáng đa chế độ: ánh sáng trắng, PRL, halogen cho WLI

Yêu cầu báo giá Mitutoyo QVW-H404P1L-E (363-716-10)

Liên hệ MAZAKO để được tư vấn và báo giá chính xác nhất.

Thông số kỹ thuật

Thông sốGiá trị
ModelQVW-H404P1L-E
Phạm vi đo (X×Y×Z)400 × 400 × 240 mm
Phạm vi đo WLI (X×Y×Z)315 × 400 × 240 mm
Độ phân giải thước đo0,01 µm
Độ chính xác đo vision E1X, E1Y(0,8 + 2L/1000) µm
Độ chính xác đo vision E1Z(1,5 + 2L/1000) µm
Độ chính xác đo vision E2XY(1,4 + 3L/1000) µm
Điều kiện đảm bảo độ chính xácVật kính 2,5X (QV-HR2,5X hoặc QV-SL2,5X) và ống kính phóng đại trung gian
Phạm vi quét Z của WLI (tối đa) – QVWLI A-5X, A-10X6,3 mm
Phạm vi quét Z của WLI (tối đa) – QVWLI A-25X3,2 mm
Phạm vi quét Z của WLI (tối đa) – QVWLI A-50X1,0 mm
Tải trọng bàn máy tối đa25 kg
Chiếu sáng viền biên dạngÁnh sáng trắng
Chiếu sáng bề mặt thẳng đứngÁnh sáng trắng
Chiếu sáng PRLÁnh sáng trắng
Đầu quang WLIHalogen
Đơn vị quan sátTurret tháp xoay lập trình được 1X-2X-6X

Câu hỏi thường gặp

Mitutoyo QVW-H404P1L-E 363-716-10 khác gì so với máy đo tọa độ 3 chiều thông thường?

Điểm khác biệt cốt lõi là QVW-H404P1L-E tích hợp đồng thời hệ thống camera vision và công nghệ Giao Thoa Ánh Sáng Trắng (WLI) trên cùng một nền tảng. Máy đo tọa độ 3 chiều thông thường chỉ đo hình học 2D/3D, trong khi thiết bị này còn phân tích địa hình bề mặt 3D và đo độ nhám bề mặt độ phân giải cao mà không cần chuyển mẫu sang thiết bị riêng biệt.

Độ chính xác đo lường của QVW-H404P1L-E được xác định như thế nào?

Độ chính xác được xác định theo phương pháp kiểm tra của Mitutoyo. Trục X và Y đạt E1X, E1Y = (0,8 + 2L/1000) µm; trục Z đạt E1Z = (1,5 + 2L/1000) µm, trong đó L là chiều dài đo bất kỳ tính bằng mm. Giá trị này được đảm bảo khi sử dụng vật kính 2,5X chuẩn (QV-HR2,5X hoặc QV-SL2,5X) kết hợp ống kính phóng đại trung gian.

Phạm vi quét của mô-đun WLI trên QVW-H404P1L-E là bao nhiêu?

Phạm vi đo của mô-đun WLI theo trục X×Y×Z là 315×400×240 mm. Phạm vi quét Z tối đa phụ thuộc vào đầu quang WLI được sử dụng: QVWLI A-5X và A-10X đạt 6,3 mm; QVWLI A-25X đạt 3,2 mm; QVWLI A-50X đạt 1,0 mm.

Phần mềm QVPAK hỗ trợ những chức năng gì cho hệ thống vision?

QVPAK cung cấp đầy đủ chức năng đo tự động theo chương trình lập trình sẵn, hỗ trợ đo các yếu tố hình học như điểm, đường thẳng, đường tròn, cung và góc. Phần mềm còn cho phép phân tích thống kê, xuất báo cáo kiểm tra chất lượng và tích hợp dữ liệu với hệ thống quản lý chất lượng của nhà máy.

Tải trọng tối đa của bàn máy QVW-H404P1L-E là bao nhiêu và có phù hợp cho chi tiết lớn không?

Bàn máy của QVW-H404P1L-E chịu tải trọng tối đa 25 kg, phù hợp để đo các chi tiết có kích thước và khối lượng trung bình đến lớn trong môi trường sản xuất công nghiệp. Phạm vi đo 400×400×240 mm đáp ứng đa dạng kích thước mẫu từ linh kiện nhỏ đến cụm chi tiết lắp ráp.

Galaxy

Máy Đo Tọa Độ 3 Chiều Kết Hợp Giao Thoa Ánh Sáng Trắng Mitutoyo QVW-H404P1L-E (363-716-10)

Liên hệ & Báo giá

Thông tin sản phẩm
Thông tin liên hệ
Nội dung yêu cầu

Thông tin của bạn được bảo mật tuyệt đối. Chúng tôi phản hồi trong 2 giờ làm việc.

Thêm vào giỏ báo giá Mua nhiều sản phẩm — gửi 1 yêu cầu duy nhất
Xem giỏ báo giá 0