Máy Đo Tọa Độ 3 Chiều Kết Hợp WLI Mitutoyo QVW-H606P1L-E (363-717-10)
Mô tả sản phẩm
Mitutoyo QVW-H606P1L-E (363-717-10) là máy đo tọa độ 3 chiều thế hệ cao cấp, kết hợp hệ thống đo không tiếp xúc bằng thị giác (Vision System) với công nghệ giao thoa kế ánh sáng trắng (White Light Interferometer – WLI), cho phép thực hiện đồng thời đo kích thước hình học và phân tích địa hình bề mặt với độ phân giải cao trong một thiết bị duy nhất.
Tích hợp Vision System & WLI
Kết hợp đo không tiếp xúc bằng camera thị giác và giao thoa kế ánh sáng trắng trên cùng một nền tảng, giảm thiểu thời gian chuyển đổi thiết bị trong quy trình kiểm tra.
Căn chỉnh và định vị dễ dàng
Cảm biến thị giác hỗ trợ căn chỉnh và định vị chi tiết nhanh chóng, tăng hiệu quả đo lường và giảm sai số do vận hành.
Phần mềm QVPAK đầy đủ tính năng
Tích hợp toàn bộ chức năng của phần mềm QVPAK cho hệ thống thị giác, hỗ trợ lập trình đo tự động và xuất báo cáo kết quả đo theo tiêu chuẩn công nghiệp.
Đánh giá địa hình bề mặt độ phân giải cao
Hệ thống WLI bổ sung khả năng phân tích độ nhám bề mặt và đo độ cao vi mô với độ phân giải vượt trội, phù hợp cho kiểm tra bề mặt gia công chính xác cao.
Ứng dụng trong môi trường sản xuất công nghiệp
QVW-H606P1L-E được thiết kế cho các bộ phận QC/QA và phòng kỹ thuật trong các ngành sản xuất linh kiện điện tử, khuôn mẫu, thiết bị y tế và ô tô, nơi yêu cầu kiểm tra đồng thời cả kích thước hình học lẫn chất lượng bề mặt trên cùng một chi tiết.
Độ chính xác đo thị giác đạt chuẩn Mitutoyo
Độ chính xác đo theo trục X, Y đạt E1X, E1Y = (0,8 + 2L/1000) μm và theo trục Z đạt E1Z = (1,5 + 2L/1000) μm, được xác định theo phương pháp kiểm định nội bộ của Mitutoyo. Đảm bảo độ chính xác khi sử dụng với đầu vật kính 2,5X kết hợp ống kính trung gian.
Phạm vi đo rộng – Tải trọng bàn lớn
Phạm vi đo 600×650×220 mm cùng tải trọng bàn tối đa 35 kg cho phép đo các chi tiết lớn và nặng trong môi trường sản xuất thực tế mà không cần thiết bị hỗ trợ thêm.
- Đo không tiếp xúc – không gây hư hại bề mặt chi tiết mỏng, mềm hoặc đã gia công tinh
- Hệ thống WLI hỗ trợ nhiều đầu vật kính: A-5X, A-10X, A-25X, A-50X với dải quét Z khác nhau
- Phạm vi đo WLI: 515×650×220 mm
- Tích hợp sẵn phần mềm QVPAK – không cần phần mềm bổ sung cho đo thị giác
- Phù hợp tiêu chuẩn kiểm tra chất lượng trong sản xuất linh kiện chính xác cao
Nhận báo giá Mitutoyo QVW-H606P1L-E (363-717-10)
Liên hệ MAZAKO để được tư vấn và báo giá chính xác nhất.
Thông số kỹ thuật
| Thông số | Giá trị |
|---|---|
| Model | QVW-H606P1L-E |
| Mã sản phẩm | 363-717-10 |
| Phạm vi đo (X×Y×Z) | 600 × 650 × 220 mm |
| Phạm vi đo WLI (X×Y×Z) | 515 × 650 × 220 mm |
| Độ chính xác đo thị giác E1X, E1Y | (0,8 + 2L/1000) μm |
| Độ chính xác đo thị giác E1Z | (1,5 + 2L/1000) μm |
| Độ chính xác đo thị giác E2XY | (1,4 + 3L/1000) μm |
| Đầu vật kính đảm bảo độ chính xác | 2,5X (QV-HR2,5X hoặc QV-SL2,5X) kết hợp ống kính trung gian |
| Dải quét Z của WLI – QVWLI A-5X, A-10X | 6,3 mm (tối đa) |
| Dải quét Z của WLI – QVWLI A-25X | 3,2 mm (tối đa) |
| Dải quét Z của WLI – QVWLI A-50X | 1,0 mm (tối đa) |
| Tải trọng bàn tối đa | 35 kg |
Câu hỏi thường gặp
Máy đo tọa độ Mitutoyo QVW-H606P1L-E khác gì so với máy đo thị giác thông thường?
Hệ thống WLI trên máy 363-717-10 sử dụng được những đầu vật kính nào?
Độ chính xác đo của QVW-H606P1L-E được đảm bảo trong điều kiện nào?
Máy có thể đo được chi tiết nặng bao nhiêu kg?
MAZAKO có cung cấp dịch vụ hiệu chuẩn và bảo trì cho Mitutoyo 363-717-10 không?
Galaxy
