Máy đo 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D – Phạm vi đo 400 x 200 mm
Mô tả sản phẩm
Máy đo hình ảnh 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D (361-854A) thuộc dòng Quick Image, mang đến giải pháp đo lường nhanh chóng chỉ với một thao tác nhấn nút. Với phạm vi đo 400 × 200 mm và hệ thống quang học telecentric kép, thiết bị đáp ứng yêu cầu kiểm tra kích thước 2D chính xác cao trong môi trường sản xuất công nghiệp B2B.
Độ chính xác cao, hai chế độ đo
Chế độ độ phân giải cao đạt độ chính xác ±2 μm và độ lặp lại ±1 μm; chế độ thông thường đạt ±4 μm và độ lặp lại ±2 μm, phù hợp linh hoạt với từng yêu cầu kiểm tra.
Hệ quang học telecentric kép
Độ sâu trường ảnh lớn (±11 mm ở chế độ thông thường), loại bỏ sai số phối cảnh, đảm bảo kết quả đo nhất quán ngay cả khi chi tiết không hoàn toàn phẳng.
Camera CCD màu 3 megapixel
Hình ảnh rõ nét, chân thực giúp nhận diện biên dạng chi tiết chính xác. Kết hợp đèn LED vòng 4 góc phần tư cho khả năng chiếu sáng đồng đều trên nhiều loại bề mặt.
Vận hành đơn giản, hiệu suất cao
Thiết kế đo lường một chạm tối ưu hóa thời gian chu kỳ kiểm tra. Trục Z hành trình 100 mm hỗ trợ chi tiết có chiều cao đa dạng trong cùng một lần thiết lập.
Hệ thống chiếu sáng đa chế độ
QI-A4020D tích hợp đồng thời ba chế độ chiếu sáng: chiếu viền (Contour), đồng trục (Coaxial) và đèn LED vòng 4 góc phần tư (4-quadrant RL). Sự kết hợp này cho phép hiển thị rõ ràng biên dạng lẫn bề mặt chi tiết, giảm thiểu việc phải điều chỉnh thủ công giữa các lần đo.
Thông số quang học và phạm vi đo
Khoảng cách làm việc của hệ quang học là 90 mm với độ phóng đại 0,2X. Hành trình đo trục X-Y đạt 400 × 200 mm, kích thước kính bàn 440 × 232 mm, trục Z 100 mm. Công thức độ chính xác tổng thể: E1(x,y) = ±(3,5 + 0,02L) μm (L là chiều dài đo, tính bằng mm), đáp ứng tiêu chuẩn kiểm tra chất lượng khắt khe nhất.
Ứng dụng điển hình trong sản xuất
QI-A4020D phù hợp kiểm tra kích thước linh kiện điện tử, chi tiết cơ khí chính xác, khuôn mẫu và các chi tiết dập/đột có biên dạng phức tạp — nơi phép đo không tiếp xúc là yêu cầu bắt buộc để tránh biến dạng mẫu.
- Đo 2D không tiếp xúc, bảo vệ toàn vẹn bề mặt chi tiết
- Hai chế độ đo linh hoạt: độ phân giải cao và thông thường
- Hệ quang học telecentric kép, độ sâu trường ảnh lớn ±11 mm
- Camera CCD màu 3 megapixel kết hợp đèn LED 4 góc phần tư
- Phạm vi đo rộng 400 × 200 mm, hành trình Z 100 mm
- Thao tác đơn giản, tối ưu thời gian kiểm tra trong dây chuyền sản xuất
Tư vấn và báo giá Mitutoyo QI-A4020D (361-854A)
Liên hệ MAZAKO để được tư vấn và báo giá chính xác nhất.
Thông số kỹ thuật
| Thông số | Giá trị |
|---|---|
| Model | QI-A4020D |
| Mã sản phẩm | 361-854A |
| Hành trình đo trục X-Y | 400 × 200 mm |
| Hành trình đo trục Z | 100 mm |
| Kích thước kính bàn | 440 × 232 mm |
| Chế độ đo | Chế độ độ phân giải cao và chế độ thông thường |
| Độ chính xác trong màn hình (±2σ) – chế độ độ phân giải cao | ±2 μm |
| Độ chính xác trong màn hình (±2σ) – chế độ thông thường | ±4 μm |
| Độ lặp lại (±2σ) – chế độ độ phân giải cao | ±1 μm |
| Độ lặp lại (±2σ) – chế độ thông thường | ±2 μm |
| Độ chính xác tổng thể E1(x,y) | ±(3,5 + 0,02L) μm — L: chiều dài đo (mm) |
| Khoảng cách làm việc hệ quang học | 90 mm |
| Độ sâu tiêu cự – chế độ độ phân giải cao | ±0,6 mm |
| Độ sâu tiêu cự – chế độ thông thường | ±11 mm |
| Độ phóng đại hệ quang học | 0,2X |
| Camera | CCD màu 3 megapixel |
| Hệ thống chiếu sáng | Chiếu viền (Contour), Đồng trục (Coaxial), LED vòng 4 góc phần tư (RL) |
| Bàn đo | Bàn thủ công |
Câu hỏi thường gặp
Máy đo 2D Mitutoyo QI-A4020D (361-854A) phù hợp kiểm tra loại chi tiết nào?
Sự khác biệt giữa chế độ độ phân giải cao và chế độ thông thường của QI-A4020D là gì?
Hệ thống quang học telecentric kép mang lại lợi ích gì so với quang học thông thường?
Phạm vi đo 400 × 200 mm của QI-A4020D có đủ cho các chi tiết lớn trong sản xuất không?
MAZAKO có cung cấp dịch vụ hiệu chuẩn và bảo trì cho Mitutoyo QI-A4020D không?
Galaxy
