Mitutoyo Máy đo tổng hợp

Máy đo 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D – Phạm vi đo 400 x 200 mm

Mã sản phẩm 361-854A
SKU 361854A
Đơn giá Liên hệ báo giá
Máy đo 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D (361-854A), phạm vi đo 400×200 mm, độ chính xác ±2 μm, camera CCD 3 megapixel màu, hệ quang học telecentric kép, đèn LED 4 góc phần tư.

Mô tả sản phẩm

Máy đo hình ảnh 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D (361-854A) thuộc dòng Quick Image, mang đến giải pháp đo lường nhanh chóng chỉ với một thao tác nhấn nút. Với phạm vi đo 400 × 200 mm và hệ thống quang học telecentric kép, thiết bị đáp ứng yêu cầu kiểm tra kích thước 2D chính xác cao trong môi trường sản xuất công nghiệp B2B.

Độ chính xác cao, hai chế độ đo

Chế độ độ phân giải cao đạt độ chính xác ±2 μm và độ lặp lại ±1 μm; chế độ thông thường đạt ±4 μm và độ lặp lại ±2 μm, phù hợp linh hoạt với từng yêu cầu kiểm tra.

Hệ quang học telecentric kép

Độ sâu trường ảnh lớn (±11 mm ở chế độ thông thường), loại bỏ sai số phối cảnh, đảm bảo kết quả đo nhất quán ngay cả khi chi tiết không hoàn toàn phẳng.

Camera CCD màu 3 megapixel

Hình ảnh rõ nét, chân thực giúp nhận diện biên dạng chi tiết chính xác. Kết hợp đèn LED vòng 4 góc phần tư cho khả năng chiếu sáng đồng đều trên nhiều loại bề mặt.

Vận hành đơn giản, hiệu suất cao

Thiết kế đo lường một chạm tối ưu hóa thời gian chu kỳ kiểm tra. Trục Z hành trình 100 mm hỗ trợ chi tiết có chiều cao đa dạng trong cùng một lần thiết lập.

Hệ thống chiếu sáng đa chế độ

QI-A4020D tích hợp đồng thời ba chế độ chiếu sáng: chiếu viền (Contour), đồng trục (Coaxial) và đèn LED vòng 4 góc phần tư (4-quadrant RL). Sự kết hợp này cho phép hiển thị rõ ràng biên dạng lẫn bề mặt chi tiết, giảm thiểu việc phải điều chỉnh thủ công giữa các lần đo.

Thông số quang học và phạm vi đo

Khoảng cách làm việc của hệ quang học là 90 mm với độ phóng đại 0,2X. Hành trình đo trục X-Y đạt 400 × 200 mm, kích thước kính bàn 440 × 232 mm, trục Z 100 mm. Công thức độ chính xác tổng thể: E1(x,y) = ±(3,5 + 0,02L) μm (L là chiều dài đo, tính bằng mm), đáp ứng tiêu chuẩn kiểm tra chất lượng khắt khe nhất.

Ứng dụng điển hình trong sản xuất

QI-A4020D phù hợp kiểm tra kích thước linh kiện điện tử, chi tiết cơ khí chính xác, khuôn mẫu và các chi tiết dập/đột có biên dạng phức tạp — nơi phép đo không tiếp xúc là yêu cầu bắt buộc để tránh biến dạng mẫu.

  • Đo 2D không tiếp xúc, bảo vệ toàn vẹn bề mặt chi tiết
  • Hai chế độ đo linh hoạt: độ phân giải cao và thông thường
  • Hệ quang học telecentric kép, độ sâu trường ảnh lớn ±11 mm
  • Camera CCD màu 3 megapixel kết hợp đèn LED 4 góc phần tư
  • Phạm vi đo rộng 400 × 200 mm, hành trình Z 100 mm
  • Thao tác đơn giản, tối ưu thời gian kiểm tra trong dây chuyền sản xuất

Tư vấn và báo giá Mitutoyo QI-A4020D (361-854A)

Liên hệ MAZAKO để được tư vấn và báo giá chính xác nhất.

Thông số kỹ thuật

Thông sốGiá trị
ModelQI-A4020D
Mã sản phẩm361-854A
Hành trình đo trục X-Y400 × 200 mm
Hành trình đo trục Z100 mm
Kích thước kính bàn440 × 232 mm
Chế độ đoChế độ độ phân giải cao và chế độ thông thường
Độ chính xác trong màn hình (±2σ) – chế độ độ phân giải cao±2 μm
Độ chính xác trong màn hình (±2σ) – chế độ thông thường±4 μm
Độ lặp lại (±2σ) – chế độ độ phân giải cao±1 μm
Độ lặp lại (±2σ) – chế độ thông thường±2 μm
Độ chính xác tổng thể E1(x,y)±(3,5 + 0,02L) μm — L: chiều dài đo (mm)
Khoảng cách làm việc hệ quang học90 mm
Độ sâu tiêu cự – chế độ độ phân giải cao±0,6 mm
Độ sâu tiêu cự – chế độ thông thường±11 mm
Độ phóng đại hệ quang học0,2X
CameraCCD màu 3 megapixel
Hệ thống chiếu sángChiếu viền (Contour), Đồng trục (Coaxial), LED vòng 4 góc phần tư (RL)
Bàn đoBàn thủ công

Câu hỏi thường gặp

Máy đo 2D Mitutoyo QI-A4020D (361-854A) phù hợp kiểm tra loại chi tiết nào?

QI-A4020D phù hợp kiểm tra kích thước 2D của linh kiện điện tử, chi tiết cơ khí chính xác, chi tiết dập/đột và khuôn mẫu. Phép đo không tiếp xúc đặc biệt thích hợp cho các chi tiết có bề mặt dễ biến dạng hoặc yêu cầu bảo toàn nguyên trạng bề mặt trong quá trình kiểm tra.

Sự khác biệt giữa chế độ độ phân giải cao và chế độ thông thường của QI-A4020D là gì?

Chế độ độ phân giải cao cho độ chính xác ±2 μm và độ lặp lại ±1 μm, phù hợp kiểm tra chi tiết yêu cầu dung sai chặt. Chế độ thông thường cho độ chính xác ±4 μm, độ sâu tiêu cự lên đến ±11 mm — phù hợp đo nhanh các chi tiết có bề mặt không đồng phẳng hoặc khi năng suất là ưu tiên.

Hệ thống quang học telecentric kép mang lại lợi ích gì so với quang học thông thường?

Hệ quang học telecentric kép loại bỏ sai số phối cảnh (parallax error) thường gặp ở quang học thông thường, đảm bảo hình ảnh chi tiết không bị méo khi vị trí theo trục Z thay đổi trong phạm vi cho phép. Kết quả là kích thước đo được nhất quán và đáng tin cậy hơn, đặc biệt quan trọng với chi tiết có độ dày không đều.

Phạm vi đo 400 × 200 mm của QI-A4020D có đủ cho các chi tiết lớn trong sản xuất không?

Hành trình đo 400 × 200 mm trên trục X-Y và 100 mm trên trục Z đáp ứng phần lớn chi tiết cơ khí và linh kiện trong sản xuất vừa và nhỏ. Với kích thước kính bàn 440 × 232 mm, người dùng có thể đặt và định vị chi tiết thuận tiện. Nếu chi tiết của bạn vượt phạm vi này, MAZAKO có thể tư vấn model phù hợp hơn trong dòng Quick Image của Mitutoyo.

MAZAKO có cung cấp dịch vụ hiệu chuẩn và bảo trì cho Mitutoyo QI-A4020D không?

MAZAKO cung cấp hỗ trợ kỹ thuật, tư vấn lắp đặt và kết nối dịch vụ hiệu chuẩn cho thiết bị Mitutoyo tại Việt Nam. Để được tư vấn chi tiết về chính sách bảo hành, hiệu chuẩn định kỳ và hỗ trợ sau bán hàng, vui lòng liên hệ trực tiếp với đội ngũ kỹ thuật MAZAKO.

Galaxy

Máy đo 2D không tiếp xúc Mitutoyo QI-A4020D – Phạm vi đo 400 x 200 mm

Liên hệ & Báo giá

Thông tin sản phẩm
Thông tin liên hệ
Nội dung yêu cầu

Thông tin của bạn được bảo mật tuyệt đối. Chúng tôi phản hồi trong 2 giờ làm việc.

Thêm vào giỏ báo giá Mua nhiều sản phẩm — gửi 1 yêu cầu duy nhất
Xem giỏ báo giá 0